型号：JEM-2010(HR)

生产厂家：日本电子(株)式会社（JEOL）

主要规格及技术指标：1. 加速电压：200 kV

2. 点分辨率：0.23 nm

3. 线分辨率：0.14 nm

4. 放大倍数：50×—1,500,000×

主要功能及应用范围：1.固体样品显微形貌观察

2.晶界及界面（显微结构及微区成分）研究

3.晶界相和异相粒子确定

4.晶体及界面缺陷分析

主要附件：1. 能谱仪（Oxford）

2.CCD相机（Gatan）

3.TV相机（Gatan）

4.镀膜仪（JEOL）

5.电镜制样设备（Gatan）

样品要求：粉状，薄膜，块状

仪器负责人：苗立锋（13879874486）