型号：JEM-F200

生产厂家：日本电子(株)式会社（JEOL）

主要规格及技术指标

1.加速电压：200 kV

2.分辨率：

 TEM点分辨率：0.23 nm

TEM线分辨率：0.10 nm

STEM、HADDF分辨率：0.16nm

背散射电子分辨率：1nm

3. 放大倍率：

TEM模式：20×-2,000,000×

STEM模式：200×-15,000,000×

4. 能谱仪：

能量分辨率：≤ 133 eV；

元素分辨范围：B-U；

主要功能及应用范围

  1.TEM模式: 形貌像、高分辨(HRTEM)、电子衍射(Diffraction)、明/暗场像(Bright/Dark Field Image)；  

  2.HAADF-STEM模式: 明/暗场(Bright/Dark Field Image)；  

  3.EDS 成分分析：点分析(Point analysis)、线分析(Line Scan)、面分析(Mapping)；

  4.原位加热样品杆。

主要附件

1. EDS 双能谱探头（JEOL）

        2. 高速高分辨CMOS相机（Gatan）

样品要求：粉状、块状

仪器负责人：苗立锋（13879874486）